灰釉瓷器属于胎釉同源,胎中所含有的化学物质及其含量,在釉中也应体现,否则就不是胎釉同源,而是胎釉分制,由此就可以确认为是现代仿品。我们在使用XRF荧光光谱仪检测釉质成分时要注意亮点。一是X射线的发射能量不能过大,X射线的穿透力与能量成正比,如果能量过强,不但无法准确获取序号较小的轻元素,而且还会穿透釉面照到胎质上,所测数据就是胎和釉的混合值。监测点要尽量选择釉厚处,厚度最好在60微米以上,电压在50KV为宜。二是照射光斑的直径大小要适中,不小于20微米。釉质中的元素分布并不均匀,光斑过小无法反映平均值,最好采用多点扫描,再计算出它的平均值。